Detectus 3D EMI電磁輻射掃描機配合使用泰克RSA306B實時便攜式頻譜分析儀。
Detectus 3D EMI電磁輻射掃描機配合使用泰克RSA306B實時便攜式頻譜分析儀。
客戶解決方案總結(jié)
挑戰(zhàn)：
Eggtronic公司在對其設(shè)計布局的EMI發(fā)射行為進行建模以優(yōu)化設(shè)計布局方面面臨挑戰(zhàn)。在電路板上應(yīng)用正確的去耦電容器的影響嚴格取決于此。這需要大量的建模和重新測試，測試時間也在迅速增長，設(shè)計成本也在不斷增加。
解決方案：
Detectus 3D EMI電磁輻射掃描機配合使用泰克RSA306B實時便攜式頻譜分析儀。
效益：
Detectus 3D掃描機允許對電路板電磁輻射進行高分辨率的3D建模；Tektronix RSA306B頻譜分析儀的組合實現(xiàn)了極快的掃描程序，而不會影響頻率掃描范圍和頻率分辨率
設(shè)計工程師要解決的一個關(guān)鍵問題是洞察其設(shè)計的電磁性能，以便遵守符合標準規(guī)范，了解輻射和潛在干擾。這對于開關(guān)電源設(shè)計和AC/DC和DC/DC轉(zhuǎn)換器尤其適用。
隨著寬帶隙器件的廣泛采用（如GaN和SiC），電源正轉(zhuǎn)向更快的高壓和大電流開關(guān)波形，這些波形在傳導(dǎo)和輻射發(fā)射中產(chǎn)生電磁干擾（EMI）。
? 工程師如何將EMI輻射抑制在標準可接受限制值以下？
? 他們?nèi)绾巫C明他們的設(shè)計技術(shù)是有效的？
? 他們?nèi)绾握业讲⒘私庠肼曉矗ɡ?，不僅定位噪聲源，而且識別設(shè)計板上發(fā)生的所有耦合機制）？
? 寄生電容和電流回路將如何改變電路設(shè)計圖?
? 工程師如何知道他們的修正是否有效？他們?nèi)绾巫C明選擇的去耦電容器的尺寸是正確的？他們?nèi)绾螠y試自己設(shè)計的電感既有效又不影響電路板的關(guān)鍵區(qū)域
圖1. 從Pendulum EMC掃描儀應(yīng)用軟件獲得的重疊三維輻射圖
圖2. EMC掃描儀移動近場探頭對貼近被測物表面等距進行3D3D輻射掃描
意大利Eggtronic公司是一家致力于創(chuàng)新電力電子解決方案的高新企業(yè)，所有類似企業(yè)中的設(shè)計工程師每天都要處理這一類問題。
Eggtronic的首席技術(shù)官恩里科?丹特(Enrico Dente)表示，EMC是開關(guān)電力電子新設(shè)計面臨的主要挑戰(zhàn)之一。
圖3. 泰克RSA306B是處理采集數(shù)據(jù)的核心頻譜分析系統(tǒng)
“我非常熱衷于使用Pendulum提供的先進3D EMI測量技術(shù)來測試我們最新的實驗室原型機。我們測試的電路板是一種隔離的AC-DC變換器，基于Eggtronic的無變壓器專利技術(shù)，在MHz頻率以上有效工作，這要歸功于GaN器件和我們專有的電路拓撲結(jié)構(gòu)。通過分析使用EMCEMC電磁兼容3D掃描儀測量分析3D掃描儀測量分析，我們可以深入了解在哪些頻率和哪些位置有EMI干擾，我們可以在EMI排放方面改進產(chǎn)品設(shè)計?！?/p>
“很明顯，測量工程師很清楚需要進行3D EMC掃描，以便在空間中繪制出電感周圍輻射干擾的區(qū)域。3D掃描可以可視化顯示整個輻射路徑的關(guān)鍵臨界頻率，并評估使用正確的去耦電容器來消除影響?！?里科?丹特(Enrico Dente)說道。
他們目前使用Pendulum EMC 3D掃描儀掃描儀與Tektronix RSA306B實時便攜式頻譜分析儀相結(jié)合的解決方案。
客戶需要以1mm甚至0.1mm的空間分辨率進行重復(fù)的掃描測量。根據(jù)使用的頻率掃描范圍和分辨率頻率，在一個相對較大的板上運行這些測試是非常耗時的
“如果用普通的頻譜分析儀進行的每一項測試都有持續(xù)時間過長的風險。對于電路板的每一點分析，都需要在整個頻譜上完成采集，并將采集的數(shù)據(jù)傳輸?shù)焦P記本電腦上進行處理，”Enrico Dente說。
“為了避免長時間采集，最好的配套頻譜分析儀是泰克公司的RSA306B頻譜分析儀。該儀器非常靈活，體積小，成本合理，但其真正的優(yōu)點是實時采集速度快。這允許快速收集數(shù)據(jù)，以便在合理的時間內(nèi)進行全面掃描，并在必要時進行重復(fù)掃描，以便立即看到我們設(shè)計修正的效果?！?Enrico Dente說
據(jù)Pendulum首席技術(shù)官Jan Eriksson介紹，泰克RSA306B可以無縫集成到他們的3D掃描系統(tǒng)中?！凹词乖谝蟮姆直媛蕩捄苄〉那闆r下，它在大頻率范圍內(nèi)的掃描時也是快速和可靠的。這使得我們的客戶可以在最小化3D掃描的測試時間與任何頻率掃描分辨率方面達到平衡。這也縮短了測量時間，并為分析獲得的數(shù)據(jù)留出了更多的時間。
